基本信息

企业名称:
普爱纳米位移技术(上海)有限公司
注册号:
310115400114749 
统一社会信用代码:
91310000746151091M 
经营状态:
存续(在营、开业、在册) 
公司类型:
有限责任公司(外国法人独资) 
成立日期:
2003-01-15 
法定代表人:
OSKAR XIANBIN ZHAO 
注册资本:
91万欧元 
营业期限:
2003-01-15至永久
登记机关:
自贸区市场监督管理局 
核准日期:
 
企业地址:
中国(上海)自由贸易试验区龙东大道3000号7号楼106室 
经营范围:
设计、开发、制造高精度定位位移测量设备和位移设备,光学检测仪器、位移设备、电子元器件的配套组装,销售自产产品,并提供相关的技术咨询和技术服务。测量仪器、光学检测仪器、电机、电气设备及其零件、金属制品、陶瓷制品、电子元器件的批发、佣金代理(拍卖除外)及相关配套服务。【依法须经批准的项目,经相关部门批准... 
股东信息
  • 股东类型:外国(地区)企业,股东:PHYSIK INSTRUMENTE(PI)GMBH &CO,德国

主要成员
  • 担任职务:董事,姓名:KARL SPANNER

  • 担任职务:副董事长,姓名:MARKUS SPANNER

  • 担任职务:董事长,姓名:OSKAR XIANBIN ZHAO

分支机构
  • 普爱纳米位移技术(上海)有限公司北京公司

  • 普爱纳米位移技术(上海)有限公司深圳分公司

  • 普爱纳米位移技术(上海)有限公司北京分公司

变更记录

2016-01-26

法定代表人变更

变更前

KARL SPANNER

变更后

OSKAR XIANBIN ZHAO

2016-01-26

章程修正案备案

变更前

变更后

2016-01-07 章程修正案

2016-01-26

董事备案

变更前

MARKUS SPANNER;OSKAR XIANBIN ZHAO

变更后

KARL SPANNER;MARKUS SPANNER

2015-10-21

住所变更

变更前

上海市张江高科技园区龙东大道3000号7号楼106室

变更后

中国(上海)自由贸易试验区龙东大道3000号7号楼106室

2015-10-21

经营范围变更

变更前

设计、开发、制造纳米级高精度定位位移测量设备,销售自产产品,并提供相关的技术咨询和技术服务(涉及许可经营的凭许可证经营)。

变更后

设计、开发、制造高精度定位位移测量设备和位移设备,光学检测仪器、位移设备、电子元器件的配套组装,销售自产产品,并提供相关的技术咨询和技术服务。测量仪器、光学检测仪器、电机、电气设备及其零件、金属制品、陶瓷制品、电子元器件的批发、佣金代理(拍卖除外)及相关配套服务。【依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动】

2014-05-26

董事备案

变更前

LIESELOTTE J。 LOSSAU;OSKAR XIANBIN ZHAO

变更后

MARKUS SPANNER;OSKAR XIANBIN ZHAO

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