PA-300

PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的第一选择。

PA-300 主要特点：

• 操作简单，测量速度可以快到3秒。
• 视野范围内可一次测量，测量范围广。
• 更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。
• 具有多种分析功能和测量结果的比较。
• 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
• 高达2056x2464像素的偏振相机。

应用领域：

• 光学镜片
• 智能手机玻璃基板
• 碳化硅，蓝宝石等

技术参数：

项次 项目 具体参数 1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】 2 测量波长 520nm 3 双折射测量范围 0-130nm 4 测量最小分辨率 0.001nm 5 测量重复精度 <1nm（西格玛） 6 视野尺寸 27x36mm到99x132mm（标准） 7 选配镜头视野 低至7x8.4（扩束镜头） 8 选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

测量案例：