集成电路失效分析流程中，I/V CURVE的量测往往是非破坏分析的步(外观检查排在步)，可见curve量测的重要性。随着器件的pin脚数越来越多，传统的curve tracer(多为手动)没有办法满足时效的需求。Advanced推出的smart-1 auto curve tracer很好的满足了客户的需求，尤其是在BGA等通讯产品方面，具备安捷伦B1500和keithely4200无可比拟的便利性。国内客户有：上海宜硕、深圳宜智发、华为、珠海炬力、苏州瑞萨、苏州三星、东莞三星、SMIC、天水华天、无锡安盛、深圳沛顿、华测检测等等

主要参数：

1. 高分辨率之I/V量测范围,Voltage Measure Range可达 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可达1uA ~ 1A，且测试Channel可从 64 pin逐步扩充Max.4096 pin，以满足客户多元化之产品测试需求。

2. 机台主要测试功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏电) Test